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2024-11-25
+2024-11-11
+2024-11-05
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ZJ-3型d33壓電測量儀可用來測量具有大壓電常數(shù)的壓電陶瓷，小壓電常數(shù)的壓電單晶及壓電高分子材料。
ZJ-4型壓電測試儀（靜壓電系數(shù)d33測量儀）是為測量壓電材料的d33常數(shù)而設計的儀器，它可用來測量具有大壓電常數(shù)的壓電陶瓷，小壓電常數(shù)的壓電單晶及壓電高分子材料。此外，也可測量任意取向壓電單晶以及某些壓電器件的等效壓電d’33常數(shù)，儀器測量范圍寬，分辨率細，可靠性高，操作簡單，對試樣大小及形狀無特殊要求，圓片、圓環(huán)、圓管、方塊、長條、柱形及半球殼等均可測量，測量結果和極性在三位半數(shù)字面板
高低溫介電測量儀主要應用于高低溫下材料的介電性能測試與分析，包括介電常數(shù)、介電損耗、電容等參數(shù)，同時測試出測試材料的其他阻抗參數(shù)，廣泛應用于陶瓷材料、半導體器件及功能薄膜材料等研究 。
JKGT-G300高溫鐵電材料測試儀是一套建立在高溫高壓下的鐵電測量系統(tǒng)，旨在針對一些特殊的要求材料需要在高溫下測量而研發(fā)的一套鐵電測量系統(tǒng)。該系統(tǒng)不僅僅在溫度上將實現(xiàn)了高溫測試，而且在電壓和頻率上進行了提高，對我們的鐵電材料研究和測試帶來更加重要的幫助，該系統(tǒng)可以測量鐵電材料的電滯回線，飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場Ec、漏電流、疲勞、保持、I-V。
熱電材料性能測試儀由高精度，高靈敏度溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構成。通過PID程序控溫，采用四點法的方式測定半導體材料及熱電材料的Seebeck系數(shù)及電導率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。
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