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  • TFVT-1000型薄膜變溫電阻測試儀
    TFVT-1000型薄膜變溫電阻測試儀

    TFVT-1000型薄膜變溫電阻測試儀一款兼具薄膜和塊體(可擴展)的測試各種薄膜材料在高溫、真空、氣氛條件下的電阻和電阻率,可以用來分析樣品的電阻率隨溫度變化曲線、電阻溫阻系數(shù)、樣品相變溫度點。而且可廣泛用于光電、鐵電、熱電等各種導電材料的電阻率測量。是目前科研和生產(chǎn)的重要材料測量設(shè)備。

    更新時間:2025-04-21型號:瀏覽量:1041
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  • SPJD-1200型四通道同屏對比測試高溫介電溫譜測量系統(tǒng)
    SPJD-1200型四通道同屏對比測試高溫介電溫譜測量系統(tǒng)

    四通道同屏對比測試高溫介電溫譜測量系統(tǒng)運用三電極法設(shè)計原理測量,并參考美國 A.S.T.M 標準。采用Labview系統(tǒng)開發(fā)具備彈性的自定義功能,可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數(shù)等設(shè)置,符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。

    更新時間:2025-04-21型號:SPJD-1200型瀏覽量:1762
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  • GWST-1000高溫四探針綜合測試系統(tǒng)(包含薄膜
    GWST-1000高溫四探針綜合測試系統(tǒng)(包含薄膜

    GWST-1000型高溫四探針綜合測試系統(tǒng)(包含薄膜,塊體功能)是為了更方便的研究在高溫條件下的半導體的導電性能,該系統(tǒng)可以*實現(xiàn)在高溫、真空及惰性氣氛條件下測量硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率和外延層、擴散層和離子層的方塊電阻及測量其他方塊電阻。

    更新時間:2025-04-21型號:GWST-1000瀏覽量:1857
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